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NvisANA, une entreprise dirige l'avenir

Contamination métallique des tranches de semi-conducteurs. Succès dans le développement d'équipement

Manufacturing News FR

' Jul. 19. 2023

Après un développement continu depuis sa création en 2010, NvisANA a été le premier au monde à développer et à fournir la « Série M-SPEC_MW300 », un appareil qui analyse automatiquement les NVD pendant le processus de production de semi-conducteurs.

 

Dans l'industrie des semi-conducteurs, à mesure que le processus devient plus micro, l'efficacité énergétique, les performances et la productivité par unité augmentent. En conséquence, les fabricants de semi-conducteurs se livrent une concurrence féroce pour développer des procédés ultra-fins jusqu'à 5 nm et 3 nm suite à la récente production de masse de 7 nm.
Comme ce processus de miniaturisation augmente la possibilité de provoquer des défauts de semi-conducteurs, la demande de technologie pour détecter la contamination pendant le processus de fabrication a augmenté plus.

 

En conséquence, Envisana a réussi à développer des équipements qui analysent la pollution métallique des wafers en cours de fabrication dans la ligne de semi-conducteurs en 2015, après une recherche et un développement continus. Envisana a continué à améliorer les performances de la série M-SPEC_MW300 qui est le produit principal et a réussi à fournir environ 60 équipements à la chaîne de production de semi-conducteurs domestiques et étrangers et à la chaîne de production de wafers en silicone.

 

Après avoir développé la série M-SPEC_MG3000/IG3000 qui analyse la pollution métallique et ionique dans les gaz de procédé pour les semi-conducteurs, Envisana a vendu la série M-SPEC_MC3000 aux entreprises étrangères et a mis au point la série M-SPEC_MC3000 qui analyse la pollution métallique dans les matériaux chimiques pour l'affichage.

 

NvisANA développe également activement I-SPEC pour le suivi de la contamination ionique et O-SPEC pour le suivi de la contamination organique.

 

Grâce à cette innovation et à ces efforts incessants, NvisANA, qui détient un total de 12 brevets nationaux et étrangers en tant que 4 principales technologies de base pour la surveillance de la pollution (analyse chimique, automatisation, contrôle de la pollution et conception de la sécurité), a reçu le prix '2019 Gyeonggi Promising Small and Medium Business Certification » par la Science Promotion Agency, attirant l'attention en tant qu'entreprise représentative en Corée.

 

Le PDG de NvisANA, Song Ki-hong, a déclaré : « Sur la base de la main-d'œuvre d'experts et du savoir-faire technique accumulé, nous continuerons à développer des technologies et à devenir une entreprise capable de mener le marché mondial.»

  • Categories : Industrial, Manufacturing News
  • Tags : #automatically analyzes NVD #semiconductor production process #process miniaturization #silicon wafer production lines

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Company-Information

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Company Name NVISANA CO., LTD.
Website www.nvisana.com
Company Overview Founded in 2010, NvisANA has developed a device that enables real-time in-line monitoring of trace amounts of metallic contamination which is optically undetectable on the world's first and only semiconductor wafer. We will supply equipment that can detect organic matter and ions in the future.
Tel 82-70-4202-0757
Company Address 120, Heungdeokjungang-ro, Giheung-gu, Yongin-si, Gyeonggi-do, Republic of Korea
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